Overview
科学目标
低维结构探针（Low-Dimension Structure Probe，简称 LoDiSP）线站以表面 X 射线散射（Surface X-Ray Scattering，SXRS）为核心方法， 分析低维材料与器件在多种外场环境中的原位结构及其动态变化。
线站采用真空内波荡器（In-Vacuum Undulator，IVU）作为光源，前实验站（EH1）核心设备为一台 6+3 圆衍射仪和一套配备机械臂快速换样系统的 GIWAXS 测试台， 配备多种小型样品环境，提供表面 X 射线衍射（Surface X-Ray Diffraction，SXRD）、 X 射线反射率（X-Ray Reflectivity，XRR）、晶体截断棒分析（Crystal Truncation Rod，CTR）、 倒易空间映射（Reciprocal Space Mapping，RSM）、表面原子对分布函数（Surface Pair Distribution Function，SPDF）、 布拉格相干衍射成像（Bragg Coherent Diffraction Imaging，BCDI）、 光子关联谱（X-Ray Photon Correlation Spectroscopy，XPCS）等 X 射线散射方法。
研究聚焦
- 低维材料与器件在外场环境中的结构及其动态变化研究
- 各种固体界面和固液界面的结构与物性的关系研究
具备对薄膜、异质结、表面、界面、纳米棒、原子链等低维材料与器件开展多维度、多尺度、多模式的结构研究能力， 尤其擅长表界面结构的探测表征。
